книга Физические основы надежности интегральных схем

А Б В Г Д Е Ж З И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я
0-9 A B C D I F G H IJ K L M N O P Q R S TU V WX Y Z #


Физические основы надежности интегральных схем

скачать Физические основы надежности интегральных схем бесплатно
Название: Физические основы надежности интегральных схем
Автор: Горлов М.И., Данилин Н.С.
Страниц: 404
Формат: DJVU
Размер: 10.3 Мб
Качество: Нормальное
Язык: Русский
Год издания: 2008


В учебном пособии на основе современных физических представлений освещаются основы надежности интегральных схем (ИС). Большое внимание уделено методам повышения надежности выпускаемых партий ИС как в процессе изготовления, так и в процессе отбраковочных испытаний. Рассмотренны дефекты, возникающие в ИС при воздействии электростатических зарядов и радиации.Издание соответствует требованиям государственного стандарта по направлению 210100 "Электоника и микроэлектроника", специальности "Микроэлектроника и твердотельная электроника".

Оглавление

Основные понятия теории качества и надежности
Критерии и количественные показатели надежности
Зависимости между основными характеристиками надежности
Примеры решения задач по надежности
Общее представление об отказах интегральных схем
Физическая модель отказов
Механизмы внезапных и постепенных отказов
Структурные дефекты компонентов БИС
Общие дефекты в твердых телах
Дефекты к времниевой подложке
Механизм образования "отрицательных нитиевидных кристаллов"
Растворения кремния алюминием
Дефекты пленок поликристаллического кремния
Нитиевидные кристаллы
Рост аморфных нитей
Дефекты структуры диэлектрических слоев
Локализованные дефекты структуры и состава диэлектрических слоев
Химические и физические нелокализованные дефекты
Механизмы отказов интегральных схем и их компонентов
Механизмы внезапных отказов диодов и биполярных транзисторов
Постепенные отказы диодов и биполярных транзисторов ИС
Отказы пассивных элементов ИС
Механизмы отказов МДП ИС
Механизмы катострофических отказов МДП транзисторов
Механизмы постепенных отказов МДП транзисторов
Электрическое старение тонких пленок SiO2
Примеры причин отказов
Самоустраняющиеся отказы
Разрушение кремниевых кристаллов БИС после монтажа металлокерамические корпуса
Дефекты металлизации на кристалле ИС
Виды дефектов внутренних соединений интегральных схем
Коррозия алюминиевой метллизации кремниевых ИС
Механизмы коррозии алюминия на кристалле ИС
Примеры возниконовения коррозионных отказов металлизации
Коррозия алюминиевой металлизации из-за неправильного выбора последовательности технологических операций
Коррозия алюминиевой металлизации из-за несовершенства метода контроля герметичности
Коррозия алюминиевой метллизации из-за загрязнения корпусов
Коррозия алюминиевой металлизации из-за загрязнения корпусов
Коррозия алюминиевой металлизации из-за неконтроллируемого содержания фосфора в фосфоросиликатном стекле
Коррозия алюминиевой металлизации ИС в пластмассовых копусаз из-за попаданиятравителей
Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС
Состав отбраковочных испытаний
Электротренировка
Электротемотренировка
Термотренировка
Продолжительность тренировок
Анализ данных по результатам тренировки
Эффективность отбраковочных испытаний для выявления ИС с дефектами внешнего вида кристаллов
Повышение надежности ППИ методом выравнивающей технологии
Модели процессов отказов ИС
Модель нагрузка-прочность
Модель накопления нагрузки
Влияние длительного воздействия температуры нанадежность термокомпрессионных соединений
Воздействие электростатических зарядов на полупроводниковые изделия
Природа возникновения электростатических зарядов при производстве полупроводниковых изделий
Результаты воздействия электростатических разрядов на полупроводниковые изделия
Коллективные и индивидуальные меры защиты от воздействий статических зарядов
Конструктивно технологические методы повышения стойкости ИС к воздействию ЭСР
Встроенная защита МДП ИС
Схемы защиты МДП ИС
Схемы защиты используемые в отечестенной электронной промышленности
Встроенная защита биполярных ИС от воздействия ЭСР
Особенности встроенной защиты БиКМПОП ИС
Влияние радиации на ИС
Источники радиации
Радиационные повреждения в кремниевых ИС
Влияние радиации на биполярные ИС
Влияние радиации на МДП схемы
Воздействие ренгтгеновского изучения на ИС
Влияние конструктивно технологических факторов надиационную стойкость ИС
Статистические и графические методы исследования качества и надежности ИС




   [turbobit




С этой книгой бесплатно скачивают:



1

 

 

Kodges.ru — сервис, позволяющий бесплатно скачать книги в различных форматах. Кроме этого, ресурс библиотеки постоянно пополняется, благодаря чему даже самые притязательные читатели смогут найти для себя что-то интересное. В разделе «Технические издания» представлена такая специализированная литература, как «Физические основы надежности интегральных схем», а также другие книги для узких специалистов и любознательных читателей. Путешествовать по разделам библиотеки Kodges.ru удобно и увлекательно.


Поделитесь ссылкой на книгу со своими друзьями:

HTML ссылка:


Ссылка для форумов:


Прямая ссылка:



Имя:*
E-Mail:
  • bowtiesmilelaughingblushsmileyrelaxedsmirk
    heart_eyeskissing_heartkissing_closed_eyesflushedrelievedsatisfiedgrin
    winkstuck_out_tongue_winking_eyestuck_out_tongue_closed_eyesgrinningkissingstuck_out_tonguesleeping
    worriedfrowninganguishedopen_mouthgrimacingconfusedhushed
    expressionlessunamusedsweat_smilesweatdisappointed_relievedwearypensive
    disappointedconfoundedfearfulcold_sweatperseverecrysob
    joyastonishedscreamtired_faceangryragetriumph
    sleepyyummasksunglassesdizzy_faceimpsmiling_imp
    neutral_faceno_mouthinnocent



Навигация по сайту


Читательские рекомендации

Информация